第二十届国际（成都）电子测试与测量专业研讨会

来源：  作者：Cef114.Com  发布：2014-05-23  点击：

2014中国（成都）电子展系列活动之

第二十届国际电子测试与测量专业研讨会

——聚焦航空航天测控技术新发展

一、 会议背景

随着国家对航空航天事业投入的不断加大，中国的航空航天事业取得了许多令人瞩目的成就，从航空电子设备到通用航空飞行器、从神舟系列载人航天工程到嫦娥系列探月工程，中国的航空航天事业在不断的探索中前进。“十二五”规划中，列出了需要着力推动实施的一批关键领域重点项目，包括航空发动机、航空电子系统、卫星通信应用、卫星导航等领域。在航空航天事业不断发展的同时，对航空航天测试技术的发展带来了挑战。

“第二十届国际电子测试与测量专业研讨会——聚焦航空航天测控技术新发展”由中国电子学会电子测量与仪器分会和中电会展与信息传播有限公司共同承办，将于2014年7月11日在成都世纪城新国际会展中心，与“2014中国（成都）电子展”同期召开。主办单位将在多年来成功举办测试测量技术研讨会的基础上，聚焦航空航天测控技术新发展，力邀行业内的知名专家、学者、工程技术人员为关注航空航天测试技术的企业和用户带来专业的、前沿的信息。

二、 会议组织机构

支持单位：中国电子信息产业集团有限公司

成都市人民政府

主办单位：中国电子器材总公司

成都市博览局

成都市经济与信息化委员会

中国电子学会

中国电子仪器行业协会

承办单位：中国电子学会电子测量与仪器分会

中电会展与信息传播有限公司

《国外电子测量技术》

支持媒体：《电子测量与仪器学报》《仪器仪表学报》《电子测量技术》中华电子网（）《中国电子商情》电子元件技术网《中国测试》《测控技术》《计算机测量与控制》《电子测试》

三、 会议时间及地点

时间：2014年7月11日

地点：成都世纪城新国际会展中心

四、 会议议题

 国内外的航空航天测试技术研究进展

 航空航天测试经典案例分享

 边界扫描在航空航天测试中的最新应用（亮点内容）

边界扫描技术适用于测试复杂集成电路(IC)，可完成高密度元器件电路板、元件封装较小电路板、多层PCB 板的电路系统测试。可方便定位电路故障，迅速测试芯片管脚连接的可靠性，从而提高测试效率。边界扫描技术适用于设计验证及大规模生产产线,可广泛应用于航空航天领域的芯片、系统测试，将大力提升其测试水平。

会议日程
时段	演讲题目	演讲人
9:00-9:20	来宾签到 Registration
9:20-9:25	开场	方荣 中国电子仪器行业协会秘书长
9:25-9:30	主办单位领导致辞	陈雯海 中国电子器材总公司副总经理
9:30-10:00	自动测试系统的现状及趋势	崔建平 中国电子学会电子测量与仪表分会秘书长
10：00-10：30	航空航天与国防方向最新的电子测试解决方案	罗德与施瓦茨公司（R&S）
10:30-11:00	航空航天可靠性、长周期测试技术的提高	北京泛华恒兴科技有限公司
11:00-11:30	待定	安捷伦公司（Agilent）
11:30-12:00	待定	北京普源精电科技有限公司
12:00-13:30	午餐Lunch
13:30-14:00	待定	泰克（Tektronix）科技
14:00-14:30	待定	中国电子科技集团第四十一研究所
14:30-15:00	待定	电子科技大学
15:00-15:30	待定	美国国家仪器公司（NI）
15:30-15:45	抽奖Lucky Draw

注：演讲日程以会议当日公布为准
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